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LAM 810-068158-013

发布时间:2025-12-11 15:34人气:

产品描述 LAM 810-068158-013

LAM 810-068158-013 是泛林集团(LAM RESEARCH)半导体制造设备中的核心射频匹配网络控制模块,专为等离子体刻蚀 / 沉积设备的射频功率匹配与稳定控制设计,承担着射频信号调谐、阻抗匹配、功率监测的关键任务,是保障半导体晶圆加工工艺稳定性与一致性的核心硬件。在 12 英寸晶圆制造产线、先进逻辑芯片刻蚀设备、3D NAND 存储芯片沉积系统中,LAM 810-068158-013 凭借高精度阻抗调节、快速匹配响应、抗干扰特性,确保等离子体工艺的稳定执行;同时,LAM 810-068158-013 支持在线诊断与远程监控,可最大限度提升半导体设备的稼动率,LAM 810-068158-013 的可靠运行直接决定了射频匹配系统的性能,是泛林半导体制造设备中的关键控制组件。

技术参数 LAM 810-068158-013

类别参数具体规格
产品型号LAM 810-068158-013
模块类型射频匹配网络控制模块(RF Match Controller)
射频频率适配13.56MHz(标准)、27.12MHz(可选)
阻抗匹配范围0.1~1000Ω,相位 0~360°
匹配响应时间<50μs(从失配到稳定匹配)
功率监测精度±0.5%(100W~5000W 射频功率范围)
通信接口Ethernet/IP、RS485、DeviceNet(设备级通信)
控制信号输入 / 输出8 路 DI(24VDC)、8 路 DO(继电器输出)、4 路 AI(4-20mA)
工作电压24VDC(控制电路)、480VAC(射频驱动电路)
工作温度15℃ ~ +45℃(运行),-20℃ ~ +60℃(存储)
防护等级IP65(设备集成安装,防尘防水)
认证标准CE、UL Semiconductor Equipment Safety 认证
兼容系统LAM Flex® 刻蚀系统、Endura® 沉积系统、第三方射频电源(Advanced Energy/MKS)
尺寸220mm × 180mm × 100mm(标准机柜安装尺寸)
平均无故障时间(MTBF)> 30,000 小时(半导体产线工况)

优势与特点 LAM 810-068158-013

1. 高精度射频阻抗匹配与快速响应

LAM 810-068158-013 采用数字信号处理(DSP)驱动的自适应匹配算法,可实时监测负载阻抗变化并动态调节电容 / 电感调谐元件,匹配响应时间<50μs,能快速适应晶圆加工过程中等离子体负载的突变(如刻蚀终点、气体切换阶段);阻抗匹配精度达 ±0.5Ω,确保射频功率高效耦合至等离子体,工艺重复性误差<1%,满足先进制程芯片的加工要求。

2. 多维度监测与工艺保障

内置射频功率、反射功率、驻波比(VSWR)实时监测功能,LAM 810-068158-013 可在反射功率超标时快速切断射频输出,保护射频电源与匹配网络硬件;支持工艺参数记录(匹配时间、功率曲线、阻抗变化),可追溯每片晶圆加工过程的射频状态,为工艺优化提供数据支撑;驻波比超过 1.5 时自动触发报警,避免等离子体灭弧或设备损坏。

3. 强抗干扰与工业级稳定性

针对半导体工厂强电磁干扰环境设计,LAM 810-068158-013 采用电磁屏蔽腔体与差分信号传输,抵御射频电源、高压设备的电磁辐射干扰;控制电路与射频电路完全隔离(隔离电压 5000VAC),避免射频信号串扰影响控制精度;工业级元器件选型满足半导体产线 24/7 连续运行需求,平均无故障时间超 3 万小时。

4. 智能诊断与便捷维护

模块内置自诊断功能,可实时监测调谐电机状态、电容 / 电感元件健康度、通信链路完整性,故障信息通过 Ethernet/IP 上传至设备主控系统;支持远程参数配置与固件升级,LAM 810-068158-013 无需拆机即可完成维护操作;模块化设计使故障部件可快速更换,维护时间缩短至 30 分钟内,大幅提升设备稼动率。

5. 无缝集成半导体制造系统

作为泛林设备原厂配套模块,LAM 810-068158-013 与 Flex® 刻蚀系统、Endura® 沉积系统的主控单元深度兼容,支持 SECS/GEM 半导体设备通信标准,可接入工厂 MES(制造执行系统)实现远程监控与工艺调度;兼容主流射频电源品牌(Advanced Energy、MKS),无需额外适配即可完成系统集成。

应用领域与案例 LAM 810-068158-013

应用领域

  • 逻辑芯片制造:7nm/5nm 先进逻辑芯片等离子体刻蚀设备射频匹配控制
  • 存储芯片制造:3D NAND/TLC NAND 存储芯片沉积工艺射频功率匹配
  • 功率半导体:SiC/GaN 宽禁带半导体器件刻蚀系统阻抗调节
  • 晶圆代工:8 英寸 / 12 英寸晶圆代工产线通用射频匹配控制模块

应用案例

某 12 英寸晶圆代工产线刻蚀设备项目

某国际晶圆代工厂 12 英寸产线采用 LAM Flex® HT 刻蚀系统,核心射频匹配控制模块选用 LAM 810-068158-013,用于 5nm 逻辑芯片接触孔刻蚀工艺的射频匹配。LAM 810-068158-013 的快速匹配响应特性适应了刻蚀过程中等离子体负载的快速变化,反射功率稳定控制在 1% 以下,工艺良率提升 2.5%;远程诊断功能提前预警 3 次调谐电容老化故障,运维人员提前更换备件,避免设备非计划停机,产线稼动率保持在 95% 以上。

某 3D NAND 存储芯片沉积设备项目

某存储芯片厂商 3D NAND 产线 Endura® 沉积系统配置 LAM 810-068158-013 模块,负责氮化硅薄膜沉积工艺的射频功率匹配。模块的高精度功率监测功能确保沉积速率偏差<0.5%,薄膜厚度均匀性提升至 ±2%;抗干扰设计抵御了产线多台射频设备的电磁干扰,无匹配失效或工艺中断现象;通过 MES 系统远程监控模块状态,实现预防性维护,设备年度故障率降低 40%。

竞品对比

参数对比LAM 810-068158-013竞品(MKS 6000 Series RF Match Controller)
匹配响应时间<50μs<100μs
功率监测精度±0.5%±1.0%
兼容频率13.56MHz/27.12MHz仅 13.56MHz
防护等级IP65IP54
MTBF> 30,000 小时> 25,000 小时

选型建议与注意事项

选型建议

  1. 工艺适配:13.56MHz 标准射频工艺直接选用 LAM 810-068158-013;27.12MHz 高频工艺需选择定制版本(810-068158-014)。
  2. 设备匹配:泛林 Flex®/Endura® 系列设备优先选用原厂模块;第三方设备集成需确认通信协议(Ethernet/IP)兼容性。
  3. 渠道选择:仅通过 LAM RESEARCH 授权代理商或原厂采购 LAM 810-068158-013,非原厂模块存在工艺参数不匹配、故障率高等问题,严禁用于量产产线。
  4. 冗余配置:关键量产产线(如 5nm 逻辑芯片产线)建议配置备用模块,缩短故障停机时间。

注意事项

  1. 安装要求:模块需安装在射频匹配网络腔体旁的专用机柜内,与射频电源间距≥1m;接地电阻<1Ω,避免射频干扰;控制线缆与射频线缆分开布线(间距≥30cm)。
  2. 组态配置:通过 LAM Process Studio 软件配置匹配算法参数、功率阈值、报警逻辑,需由专业工程师完成校准,确保工艺参数符合生产要求。
  3. 维护管理:每季度清洁模块散热通道,检查调谐电机润滑状态;每年进行一次阻抗匹配精度校准,更换老化的电容 / 电感元件;备份工艺参数与组态文件,避免数据丢失。
  4. 存储要求:备用 LAM 810-068158-013 需存储在无尘、恒温环境(20℃ ~ +25℃,湿度 30%~60%),避免静电损坏,存储时保留原厂防静电包装。



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